-
人才政策保障员工基本权益与福利；提供专业技能培训，促进员工成长；开展丰富多彩的活动，平衡员工工作与生活。 -
招贤纳士欢迎加入南宫NG28检测大家庭，南宫NG28将为你搭建一个充分施展才华，实现职业理想的舞台。
权威公正 传递信任
彰显品质 创造价值
彰显品质 创造价值
传统截面研磨分析 (Cross-Section)
传统截面研磨分析（Cross-Section）服务是一种高精度、全面可靠的分析技术，能够为半导体、电子元器件等领域的质量控制、失效分析和研发测试提供有力支持。通过专业的服务团队和先进的设备技术，南宫NG28能够为客户提供定制化、高质量的分析服务。
- 咨询报价
- 在线商城
◉ 什么是传统截面研磨分析（Cross-Section）
传统截面研磨分析（Cross-Section）是一种在半导体、电子元器件等领域广泛应用的物理分析方法。它通过对样品进行精确的切割、研磨、抛光和成像，以揭示其内部结构和材料特性，为产品的质量控制、失效分析和研发测试提供关键数据支持。
◉ 服务特点
▌高精度
采用先进的切割、研磨和抛光技术，确保样品截面的高精度和清晰度。
▌全面性
能够揭示样品的内部结构和材料特性，包括微观结构、成分分布、缺陷等。
▌高可靠性
结合丰富的行业经验和专业知识，提供准确可靠的分析结果。
▌定制化
根据客户需求和样品特性，提供定制化的服务方案，满足不同领域的分析需求。
◉ 服务优势
◉ 服务流程
相关推荐
-
电光探测/电光频率成像分析（ EOP/EOPM ）CTI南宫NG28检测凭借先进的设备和专业的技术团队，为客户提供高质量、高效率的EOP/EOPM服务，为芯片设计、制造、测试及失效分析等领域提供了强大的技术支持，助力客户在激烈的市场竞争中取得优势。查看更多 -
动态雷射扫描分析（DLAS）DALS芯片服务项目广泛应用于新芯片设计的侦错、除错和验证改版等领域，特别是在IC设计复杂度增加和制程演进的情况下，DALS技术能够发挥更大的作用。通过DALS技术，客户可以快速地解决芯片设计中的问题，提高产品的可靠性和稳定性。作为业界领先的第三方芯片半导体实...查看更多 -
动态微光显微镜分析（DEMMI）CTI南宫NG28检测以专业、高效、准确的服务，为客户提供高质量的动态微光显微镜分析服务。南宫NG28将以客户需求为导向，不断提升服务质量和技术水平，为客户在科学研究、产品研发和质量控制等领域提供有力的支持。查看更多 -
扫描式电子显微镜 (SEM) & EDSCTI南宫NG28检测可提供先进的扫描式电子显微镜（SEM）与能量色散光谱仪（EDS）分析技术，旨在为客户提供材料表面形貌、微观结构以及化学成分的综合分析。通过SEM的高分辨率成像和EDS的元素分析功能，南宫NG28能够揭示材料的微观世界，为科研、工业检测、产品开发等领域提供查看更多 -
离子束截面研磨/抛光分析服务 (CP）CTI南宫NG28检测以优质的服务、先进的技术为客户提供离子束截面研磨/抛光分析服务（CP），帮助客户解决科研和产品开发中的难题，推动科技进步和社会发展。查看更多 -
芯片去层分析 (Delayer)芯片去层（Delayer）服务是一种在半导体行业中非常重要的技术服务，它可以帮助研究人员深入了解芯片的内部结构和性能，并为产品改进提供有力支持。CTI南宫NG28检测可帮助客户深入了解芯片的内部结构和性能，并为产品改进提供有力支持。查看更多 -
芯片化学开盖分析 (Decap)CTI南宫NG28检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可，拥有完善的芯片、半导体器件失效分析工具，可为您提供完善的开封及失效分析服务，测试数据准确可靠，完备的实验室信息管理系统，保障每个服务环节的高效、保密运转。查看更多 -
热辐射故障定位显微镜 (Thermal EMMI）热辐射故障定位显微镜（Thermal EMMI）是一种基于热成像技术的故障检测设备，能够非接触、无损伤地检测电子元器件在运行时产生的热辐射变化，从而精准定位故障点。该设备在半导体芯片、集成电路、封装器件等领域具有广泛的应用，为质量控制、故障分析和研发测试提供了...查看更多 -
雷射光阻值变化侦测 (OBIRCH)CTI南宫NG28检测雷射光阻值变化侦测（OBIRCH）服务是一种高效、精准的集成电路检测技术，南宫NG28致力于为客户提供优质的服务，助力客户在激烈的市场竞争中取得优势。查看更多 -
砷化镓铟微光显微镜侦测 (InGaAs)砷化镓铟微光显微镜(InGaAs)其原理是侦测电子-电洞结合与热载子所激发出的光子，与过往的微光显微镜(EMMI)原理相同，世代演进后使用新的侦测器材料(InGaAs)，让可侦测波长范围和所激发出光子的波长范围更为相配，且与目前主流的背向(透过Si)侦测方式所...查看更多 -
芯片X光检测 (X-ray)随着工业的发展以及电子科技的迭代升级，越来越多的电子消费品需要通过X-Ray无损探伤的方法进行质检或分析。X-Ray检测不仅帮助制造商提高产品质量、减少返工和废品，更重要的是还可以提升最终产品的可靠性和用户的满意度。CTI南宫NG28检测拥有完备的实验室信息管理系统，...查看更多 -
超声波扫描显微镜测试（SAT）超声波扫描显微镜（SAT）是透过反射、穿透、分散、材料变化与缺陷产生不同讯号，进而产生不同检验图像作为分析。SAT运用各种不同频率的探头来做各种样品的非破坏检测，其可无损的检测IC内部结构，可分层、多层扫描检测IC内部各项缺陷（裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞...查看更多 -
芯片防静电测试芯片静电防护能力ESD测试是半导体产品先期质量验证的重要关键指针，CTI南宫NG28检测已通过CNAS/ISO17025/ISO9001资质认可，ANSI/ESD S20.20静电防护体系认证。可为您提供芯片防静电能力测试，测试数据准确可靠，实验室信息管理系统，保障每查看更多 -
传输线脉冲测试（TLP）传输线脉冲测试（TLP）测试是一种用于评估ESD（静电放电）保护装置的高度专业的方法。基本原理是利用脉冲电流模拟ESD事件，以测量器件在不同应力条件下的电压和电流响应。通过TLP测试，南宫NG28可以获取器件的IV（电流-电压）特性曲线，这对于理解器件的动态响应以及评...查看更多 -
闩锁测试（Latch-up）闩锁效应Latch-up，是指瞬间电流被锁定或者放大，而造成芯片在电源与对地之间造成短路，而因为大电流损伤芯片。由于目前半导体电路设计密度越来越高，电压或电流的瞬间变化对于芯片的损伤也越趋严重。CTI南宫NG28检测提供完整的半导体产品芯片可靠性试验项目，协助客户通过...查看更多
粤公网安备 44030602000441号 
- 400-6788-333
- Inspection
-
- 点击收藏
- TOP