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热辐射故障定位显微镜 (Thermal EMMI）
热辐射故障定位显微镜（Thermal EMMI）是一种基于热成像技术的故障检测设备，能够非接触、无损伤地检测电子元器件在运行时产生的热辐射变化，从而精准定位故障点。该设备在半导体芯片、集成电路、封装器件等领域具有广泛的应用，为质量控制、故障分析和研发测试提供了强有力的技术支持。CTI南宫NG28检测凭借专业的设备、丰富的经验和定制化的服务，为客户提供全面、精准的故障检测服务，帮助客户提高产品质量和竞争力。
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◉ 热辐射故障定位显微镜(Thermal EMMI）
热辐射故障定位显微镜（Thermal EMMI）是一种基于热成像技术的故障检测设备，能够非接触、无损伤地检测电子元器件在运行时产生的热辐射变化，从而精准定位故障点。该设备在半导体芯片、集成电路、封装器件等领域具有广泛的应用，为质量控制、故障分析和研发测试提供了强有力的技术支持。
◉ 应用场景
- IC封装及IC内部短路分析
- 低阻抗分析(<10 ohm)
- 非破坏性检测(IC可不开盖)
- PCB/模块的金属线路缺陷
- TFT-LCD漏电/有机EL漏电定位
- 新制程开发阶段device内部异常发热的观测
◉ 服务设备
◉ 服务优势
专业设备：南宫NG28拥有先进的热辐射故障定位显微镜设备，能够满足不同领域和场景的检测需求。
丰富经验：南宫NG28的技术团队具备丰富的热辐射检测经验，能够为客户提供专业的技术支持和解决方案。
定制化服务：南宫NG28提供定制化服务，根据客户需求进行针对性的检测方案设计和实施，确保检测结果的准确性和可靠性。
全面报告：检测完成后，南宫NG28将提供详细的检测报告，包括热辐射图像、故障点位置、温度分布等信息，帮助客户全面了解电子元器件的工作状态和故障情况。
◉ 服务流程
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