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动态雷射扫描分析（DLAS）
DALS芯片服务项目广泛应用于新芯片设计的侦错、除错和验证改版等领域，特别是在IC设计复杂度增加和制程演进的情况下，DALS技术能够发挥更大的作用。通过DALS技术，客户可以快速地解决芯片设计中的问题，提高产品的可靠性和稳定性。作为业界领先的第三方芯片半导体实验室，CTI南宫NG28检测拥有先进的DALS设备和专业的技术团队，能够为客户提供高质量的服务。
◉ 服务背景
随着集成电路（IC）设计复杂度的提升和制程的演进，针对功能性失效、临界区域失效等需要动态信号驱动后才产生的失效现象，DALS技术能够提供有效的解决方案。通过外部测试平台或其他应用板提供信号驱使IC进入临界失效状态，搭配失效分析设备，DALS能够精确地侦测出造成临界失效的位置。
◉ 动态雷射扫描分析（DLAS）
DALS芯片服务项目广泛应用于新芯片设计的侦错、除错和验证改版等领域，特别是在IC设计复杂度增加和制程演进的情况下，DALS技术能够发挥更大的作用。通过DALS技术，客户可以快速地解决芯片设计中的问题，提高产品的可靠性和稳定性。
作为业界领先的第三方芯片半导体实验室，CTI南宫NG28检测拥有先进的DALS设备和专业的技术团队，能够为客户提供高质量的服务。
◉ 服务优势
1.高效性
DALS技术能够快速地定位到失效区域，大大缩短了失效分析的时间，提高了工作效率。
2.准确性
通过动态信号驱动和失效分析设备的配合使用，DALS能够准确地找出失效的真正原因，避免了误判和漏判。
3.先进性
作为业界领先的第三方实验室，CTI南宫NG28检测拥有先进的DALS设备和专业的技术团队，能够为客户提供高质量的服务。
◉ 服务流程
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