◉ 服务背景
超声波扫描显微镜(SAT)是透过反射、穿透、分散、材料变化与缺陷产生不同讯号,进而产生不同检验图像作为分析。SAT运用各种不同频率的探头来做各种样品的非破坏检测,其可无损的检测IC内部结构,可分层、多层扫描检测IC内部各项缺陷(裂纹、分层、夹杂物、附着物、空洞、孔洞、晶界边界等),并检测出IC表征和测量材料的属性。
◉ 超声波扫描显微镜测试(SAT)
应用场景
设备参数
低频:15MHz、25MHz、30MHz
中间:50MHz、75MHz
高频:100MHz、120MHz、230MHz
检测案例
◉ 服务优势
◉ 服务流程