南宫NG28

ELFR 测试，全称为 Early Life Failure Rate（早期寿命失效率）测试，是一种通过高温高压加速测试，快速识别和排除早期失效器件的方法。其目的在于评估产品在早期阶段的失效率，有效降低产品的初始失效风险，从而提升产品的可靠性。

芯片的失效率在其生命周期内呈现出近似浴盆曲线的变化趋势，分为早期失效期、偶然失效期和耗损失效期。ELFR 测试主要针对早期失效期，在此阶段，产品失效率较高，且会随着时间的推移而迅速下降。通过 ELFR 测试，能够在产品投入市场前发现并解决潜在问题，避免早期失效带来的负面影响，如客户投诉、召回和品牌损害。

测试方法

样品准备

选取一定数量的器件作为测试样品，这些样品应代表生产批次的典型特性。可根据FPM要求选择对应测试数量，如下Table B 为JESD47在特定置信度下对样品最小数量需求说明。

测试环境设置

将样品放置在特定的高温环境中，通常温度会设置在比器件正常工作温度高一定程度的水平。例如，对于一些集成电路，可能会在 125℃或更高的温度下进行测试。

施加工作条件

在高温环境下，对器件施加稳定的工作电压、电流、工作信号等条件，使其处于工作状态。

持续测试时间

通常会持续48≦t≦168 hrs。

监测与记录

在测试过程中，持续监测器件的电性能参数，并记录这些参数随时间的变化情况。

结果评估

1.在高温测试结束48小时之内进行电性能测试。

2.统计出现早期失效的样品数量，并计算产品的早期失效率。早期失效率的计算方法与公式参考：JESD74。

3.根据测试结果，判断产品是否符合早期失效率的要求。如果产品的早期失效率超过了规定的指标，则产品不合格；如果产品的早期失效率在规定的指标范围内，则产品合格。

标准与规范

为了确保 ELFR 测试的准确性和可靠性，美国电子工业协会（JEDEC）制定了一系列关于集成电路（IC）封装和封装材料的标准，JESD22-A108标准用于规范 ELFR 的范围与实验方法。同时，国际汽车电子协会（Automotive Electronics Council，AEC）制定的 AEC-Q100-008 等标准对汽车电子芯片的可靠性测试进行了详细规定。

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